Métrologie optique des couches minces

Résumé de la formation :

 

Formation à la carte : veuillez contacter le responsable pédagogique pour la planification de la formation.

Limité à 12 stagiaires.

Objectifs de la formation :

Connaitre différentes techniques optiques dédiées à la caractérisation des couches minces Mise en œuvre pratique de ces techniques : détermination d’indices et caractérisation microstructurale.

Public concerné :

Techniciens supérieurs, chercheurs, ingénieurs

Durée de la formation :

29 h
45 jour(s)

15 h CM + 14 h TP = 29 h au total

Lieu principal d'enseignement :

  • Villeurbanne - La Doua

Programme :

Cours théoriques :
2 jours et demi

Introduction :
-Rappels théoriques d’optique - Notions de bases
-Pourquoi caractériser optiquement les couches minces (exemple : intérêt de connaitre l’indice optique)
Quelle technique pour quelle information ?
-Systèmes optique (sources, détecteurs…etc…)

Présentation de différentes techniques; Principes, avantages et limitations de chaque technique :
-Spectroscopie UV-Vis et IR
-Spectroscopie vibrationnelle : Raman, Brillouin
-Ellipsométrie
-Optique guidée : “m-lines”

Travaux pratiques :
2 jours
-Spectroscopie UV-Vis
-Spectroscopie vibrationnelle
-Ellipsométrie
-M-lines

Conditions de validation :

Attestation de formation

Prochaine session :

Pas de session sur 2017/2018. A priori, ouverture sur 2018/2019

Modalités d'inscription :

Bulletin d'inscription à renvoyer completé et signé à inscription.fcsciences@univ-lyon1.fr

Tarifs :


Montant : 1800 euros

Responsable de la formation :

PEREIRA Antonio
Email : antonio.pereira@univ-lyon1.fr

Contact formation continue et alternance (FOCAL) :

AMANDINE GENIN
Email : amandine.genin@univ-lyon1.fr